產(chǎn)品特色
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適用尺寸3.2mm x 2.5mm ~1.6mm x 0.8mm
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測(cè)試包裝速度600ppm~1500ppm
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層間短路判斷功能：
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面積比 (Area)
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放電二次微分偵測(cè) (Laplacian)
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波峰降比 (ΔPeak Ratio)
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共振波面積比 (ΔResonant Area)
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具接觸檢查功能以延長(zhǎng)治具使用期限
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可選擇搭配5組或2組測(cè)試站
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導(dǎo)引盤(pán)設(shè)計(jì)，無(wú)掉料疑慮
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類(lèi)四線(xiàn)式量測(cè)設(shè)計(jì)的測(cè)試座
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具有各種**品獨(dú)立收集盒
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專(zhuān)用數(shù)據(jù)收集軟件，可實(shí)時(shí)監(jiān)控生產(chǎn)質(zhì)量
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切換式中/英/日文操作接口
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設(shè)備快速、穩(wěn)定、**
Chroma 1871是專(zhuān)門(mén)為芯片型電感所設(shè)計(jì)的自動(dòng)化測(cè)試生產(chǎn)設(shè)備，特別針對(duì)層間短路測(cè)試而設(shè)計(jì)，滿(mǎn)足客戶(hù)端大量生產(chǎn)需求。
1871的測(cè)試功能為層間短路測(cè)試(IWT)，是把關(guān)芯片電感質(zhì)量的測(cè)試系統(tǒng)。此系統(tǒng)也承襲Chroma 19301A 繞線(xiàn)組件脈沖測(cè)試器所有的判斷功能，包含波形面積比(Area)、放電二次微分偵測(cè)(Laplacian)及新的測(cè)試判斷功能波峰降比(Δ Peak Ratio)、共振波面積比(Δ Resonant Area)。
為因應(yīng)現(xiàn)今電子產(chǎn)品，薄型化的電感器被大量使用，相對(duì)的也需大量生產(chǎn)，Chroma 1871*大生產(chǎn)效率為每分鐘1,500個(gè)，可滿(mǎn)足龐大產(chǎn)能需求。利用一次5組層間短路測(cè)試站同時(shí)測(cè)試來(lái)達(dá)到快速量產(chǎn)。亦可選擇僅搭配2組層間短路測(cè)試站給予不需量產(chǎn)的研發(fā)或品保等單位使用，以符合*佳的成本效益。
1871的供料模塊采用圓盤(pán)振動(dòng)送料，可高速運(yùn)送薄型化產(chǎn)品。圓盤(pán)振動(dòng)送料可透過(guò)軌道設(shè)計(jì)、光纖偵測(cè)及氣孔吹氣來(lái)控制入料時(shí)產(chǎn)品的方向，相較于以往直線(xiàn)往復(fù)式機(jī)械送料更快速也省空間。
傳統(tǒng)往復(fù)式或炮塔式機(jī)械架構(gòu)在測(cè)試移載時(shí)，是以吸嘴吸附并移載產(chǎn)品，往往在移載時(shí)受移動(dòng)慣性影響發(fā)生產(chǎn)品掉落或定位不準(zhǔn)確無(wú)法量測(cè)。1871的測(cè)試區(qū)為封閉式導(dǎo)引盤(pán)架構(gòu)設(shè)計(jì)，高速移載時(shí)不會(huì)有產(chǎn)品掉落的疑慮，相較于傳統(tǒng)機(jī)械架構(gòu)則更快速、穩(wěn)定。
致茂電子專(zhuān)注于精密電子量測(cè)技術(shù)，自動(dòng)測(cè)試設(shè)備的治具亦可量身訂做。1871使用的測(cè)試座為類(lèi)四線(xiàn)式量測(cè)設(shè)計(jì)，測(cè)試座與產(chǎn)品的連接端采片式設(shè)計(jì)，比一般測(cè)試設(shè)備使用的探針更容易接觸且壽命長(zhǎng)；量測(cè)時(shí)，片式設(shè)計(jì)也比探針?lè)€(wěn)定、容易維護(hù)。
Chroma 1871具備專(zhuān)用軟件，可于生產(chǎn)過(guò)程中實(shí)時(shí)監(jiān)控測(cè)試狀態(tài)，收集儲(chǔ)存每單一產(chǎn)品的測(cè)試數(shù)據(jù)。實(shí)時(shí)監(jiān)控功能有利于降低生產(chǎn)風(fēng)險(xiǎn)，減少不必要的工時(shí)；數(shù)據(jù)收集功能則可協(xié)助研發(fā)及品保單位做產(chǎn)品分析或質(zhì)量控管，透過(guò)軟件接口的數(shù)據(jù)分析可提升質(zhì)量，進(jìn)而增加利潤(rùn)。
Applications
研發(fā)、品保批量驗(yàn)證可選擇僅搭配2組層間短路測(cè)試站
研發(fā)及品保單位會(huì)進(jìn)行產(chǎn)品特性檢測(cè)，以層間短路測(cè)試分析產(chǎn)品**狀態(tài)。因此檢測(cè)同時(shí)也需要收集測(cè)試數(shù)據(jù)，分析產(chǎn)品的數(shù)據(jù)及質(zhì)量。
產(chǎn)線(xiàn)高速測(cè)試生產(chǎn)搭配5組層間短路測(cè)試站
生產(chǎn)線(xiàn)可選擇搭配5組層間短路測(cè)試站，一次5站同時(shí)測(cè)試可縮短測(cè)試時(shí)間，以達(dá)到高速量產(chǎn)，測(cè)試同時(shí)亦可監(jiān)控測(cè)試狀態(tài)并收集數(shù)據(jù)。
