產(chǎn)品特色
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*高可輸出6kV脈沖測(cè)試(依待測(cè)物的電容量決定)
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可設(shè)定的脈沖間隔時(shí)間30ms~3000ms
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8種判定：
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面積比較
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面積差比較
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二次微分偵測(cè)
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**電壓峰值
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第三電壓峰值
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波峰比
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波峰差比
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接觸檢查
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崩潰電壓分析模式(BDV Mode)
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高取樣率(200MHz)
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支持*大25通道掃描測(cè)試(19311-10搭配A190362選購)
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英文/繁中/簡(jiǎn)中操作接口
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支援USB隨身碟
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波形、測(cè)試條件/結(jié)果儲(chǔ)存
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畫面擷取
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內(nèi)存數(shù)據(jù)備份
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圖形化彩色顯示
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標(biāo)配LAN、USB、RS232控制接口
Chroma 19311系列電池芯脈沖測(cè)試儀是專門針對(duì)尚未注入電解液的鉛酸電池芯施加高壓脈沖來檢測(cè)正負(fù)極板之間的絕緣質(zhì)量。19311系列擁有*高6kV的脈沖輸出電壓、四線式的電壓量測(cè)與200MHz的高速取樣率對(duì)電池芯進(jìn)行脈沖測(cè)試，使用者可依需求選擇單通道測(cè)試儀(19311)或多通道掃描測(cè)試儀(19311-10)。
19311-10機(jī)型具備10個(gè)通道，可利用掃描測(cè)試的方式做多通道切換輸出檢測(cè)，單機(jī)*多可檢測(cè)9個(gè)電池芯。搭配A190362掃描治具，*多可支持25通道，同時(shí)檢測(cè)24個(gè)電池芯。19311-10機(jī)型可快速對(duì)多個(gè)電池芯做掃描測(cè)試，此優(yōu)勢(shì)大幅節(jié)省測(cè)試時(shí)間及人力成本，適合應(yīng)用在生產(chǎn)在線來提高產(chǎn)能。
在鉛酸電池尚未注入電解液前，對(duì)鉛酸電池芯做高壓脈沖測(cè)試的主要目的是為了檢測(cè)電池芯里正負(fù)極板之間的絕緣距離與質(zhì)量、隔離膜是否存在、以及正負(fù)極板之間是否有短路，藉以找出劣質(zhì)或**的電池芯。因此，使用脈沖測(cè)試的檢測(cè)方式可以提升鉛酸電池芯的質(zhì)量。
Chroma 19311系列可透過內(nèi)部電感與電池芯的諧振波形來分析電池芯的絕緣質(zhì)量差異。檢測(cè)的判定功能共有8種:面積比較(Area)、面積差比較(Diff-Area)、顫動(dòng)量偵測(cè)(Flutter)、二階微分偵測(cè)(Laplacian)、**電壓峰值判定(V1)、第三電壓峰值判定(V3)、波峰比(Peak Ratio)及波峰差比(ΔPeak %)。
脈沖測(cè)試
脈沖測(cè)試是將一個(gè) "非破壞性"、短暫且低能量的脈沖電壓施加在鉛酸電池芯上。當(dāng)施加脈沖測(cè)試時(shí)，由于19311/19311-10的內(nèi)部有一個(gè)諧振電感，所以電池芯會(huì)與內(nèi)部電感產(chǎn)生諧振。將測(cè)試的諧振波形加以分析或與樣品的諧振波形進(jìn)行比對(duì)來判斷出鉛酸電池芯是否為良品。對(duì)尚未注入電解液的鉛酸電池芯做脈沖測(cè)試，主要是為了在注入電解液之前發(fā)現(xiàn)鉛酸電池芯是否有絕緣**或是隔離膜不存在的問題。在開關(guān)打開后，鉛酸電池芯與內(nèi)部電感諧振波形的電壓峰值衰減狀態(tài)代表著絕緣質(zhì)量的好壞。
八種判定功能
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面積比較 (Area)
面積比較可用來檢測(cè)鉛酸電池芯的正負(fù)極板之間是否絕緣**或隔離膜不存在。面積比較是將測(cè)試的波形總面積與樣品的波形總面積做差異比較，總面積的差異表現(xiàn)出了電池芯絕緣程度的好壞。當(dāng)電池芯正負(fù)極板之間的絕緣**或是隔離膜不存在時(shí)，在足夠的電場(chǎng)強(qiáng)度/電壓下會(huì)造成放電，瞬間的能量釋放導(dǎo)致波形瞬間快速衰減， 所以測(cè)試的波形總面積會(huì)比樣品的波形總面積小。
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面積差比較 (Differential Area)
面積差比較可用來檢測(cè)待測(cè)物電容量的差異。面積差比較是測(cè)試的波形與樣品的波形不重迭的面積所占的比例，此比例的大小代表著待測(cè)物的電容量與樣品的電容量的差異，當(dāng)電容量越大 波形諧振的頻率會(huì)越低，電容量越小波形諧振的頻率越高。
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顫動(dòng)量偵測(cè) (Flutter)
顫動(dòng)量偵測(cè)可以用來做接觸檢查。顫動(dòng)量偵測(cè)是利用一階微分的計(jì)算方式計(jì)算出波形所產(chǎn)生的總量，由于當(dāng)沒有碰觸好或是沒有接到待測(cè)物做測(cè)試時(shí)，電容量會(huì)比有接到待測(cè)物時(shí)還要小很多，所以波形諧振的頻率會(huì)非常高，導(dǎo)致波形的總量變大，因此可利用此特性來做接觸檢查的判斷。
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二次微分偵測(cè) (Laplacian)
二次微分偵測(cè)可以用來偵測(cè)較小的放電。二次微分偵測(cè)是利用二次微分的計(jì)算方式，找出在脈沖測(cè)試的過程中是否有因?yàn)榘l(fā)生較小的放電，所造成測(cè)試波形發(fā)生的快速變化或快速轉(zhuǎn)折。
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**電壓峰值 (V1)
諧振波形中的**個(gè)電壓峰值。當(dāng)電池芯正負(fù)極板之間的絕緣**或是隔離膜不存在時(shí)，在足夠的電場(chǎng)強(qiáng)度/電壓下會(huì)造成放電，會(huì)導(dǎo)致**個(gè)電壓峰值比樣品的**個(gè)電壓峰值低。
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第三電壓峰值 (V3)
諧振波形中的第三個(gè)電壓峰值。當(dāng)電池芯正負(fù)極板之間的絕緣**或是隔離膜不存在時(shí)，在足夠的電場(chǎng)強(qiáng)度/電壓下會(huì)造成放電，能量的釋放會(huì)導(dǎo)致第三個(gè)電壓峰值的電壓比良品低。當(dāng)電池芯的絕緣質(zhì)量較差時(shí)，因?yàn)槟芰繐p失的較快也較多，也會(huì)導(dǎo)致第三個(gè)電壓峰值的電壓比良品低。
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波峰比 (Peak Ratio)
波峰比是用來檢測(cè)鉛酸電池芯正負(fù)極板之間的絕緣質(zhì)量。波峰比是波形的第五個(gè)電壓峰值與第三個(gè)電壓峰值的電壓比例，當(dāng)電池芯的等效并聯(lián)電阻(Rp)較小或絕緣的質(zhì)量較差時(shí)，因?yàn)槟芰繐p耗的較多、較快，導(dǎo)致第五個(gè)電壓峰值變得更小，所以絕緣質(zhì)量較差的波峰比會(huì)比絕緣品質(zhì)較好的波峰比更小。波峰比的大小表現(xiàn)出電池芯正負(fù)極板之間絕緣質(zhì)量的狀態(tài)。
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波峰差比 (ΔPeak %)
波峰差比是用來檢測(cè)鉛酸電池芯正負(fù)極板之間的絕緣質(zhì)量是否接近樣品的絕緣質(zhì)量。波峰差比為測(cè)試波形的波峰比與樣品波形的波峰比的差異，利用比較的方式可以篩出絕緣質(zhì)量接近樣品絕緣質(zhì)量的產(chǎn)品。當(dāng)待測(cè)物的絕緣質(zhì)量與樣品的絕緣質(zhì)量一樣時(shí)，因?yàn)闇y(cè)試波形的波峰比與樣品波形的波峰比相同，所以波峰差比為0。當(dāng)待測(cè)物的絕緣質(zhì)量低于樣品的絕緣質(zhì)量時(shí)，因?yàn)闇y(cè)試波形的波峰比會(huì)比樣品波形的波峰比小，所以波峰差比為負(fù)數(shù)，表示待測(cè)物的絕緣質(zhì)量比樣品差。
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產(chǎn)品應(yīng)用
接觸檢查 Contact Check
接觸檢查功能利用諧振頻率的差異來檢測(cè)是否有連接到待測(cè)物。由于當(dāng)沒有碰觸好或是沒有接到待測(cè)物做測(cè)試時(shí)，電容量會(huì)比有接待測(cè)物時(shí)還要小很多，所以波形諧振的頻率會(huì)變高，并可利用此頻率差異做檢測(cè)。使用者可依各自的需求對(duì)接觸檢查的靈敏度做調(diào)整，可將百分比的界線提高來增加接觸檢查的靈敏度或是將百分比的界線降低來減少接觸檢查的靈敏度。
崩潰電壓分析 Breakdown Voltage ( B.D.V)
19311 Series具有崩潰電壓分析功能，可設(shè)定起始電壓與結(jié)束電壓，利用電壓爬升過程偵測(cè)波形面積比(Area) 、二階微分偵測(cè)(Laplacian) 及波峰比(Peak Ratio)是否超過設(shè)定的限制，測(cè)試電池芯*大可承受的脈沖測(cè)試電壓。研究人員可利用此功能對(duì)鉛酸電池芯進(jìn)行分析與研究，及制定制造生產(chǎn)時(shí)脈沖測(cè)試的檢測(cè)電壓。
10/25 通道掃描測(cè)試
19311-10 單機(jī)有10個(gè)通道可進(jìn)行掃描測(cè)試，*多可以一次連續(xù)測(cè)試9個(gè)電池芯。搭配Scan Box(A190362)，可以擴(kuò)增通道數(shù)至25個(gè)通道*一次*多可連續(xù)測(cè)試24個(gè)鉛酸電池芯。
Screenshot 畫面擷取功能
操作者可以利用快捷鍵擷取操作當(dāng)下屏幕上所顯示的畫面，顯示畫面的截圖的會(huì)儲(chǔ)存于插置在19311上的USB 隨身硬盤。
Export 數(shù)據(jù)導(dǎo)出功能
操作者可以利用Export功能將每一次測(cè)試的數(shù)據(jù)結(jié)果導(dǎo)出并儲(chǔ)存于插置在19311/19311-10上的USB 隨身硬盤(USB flashdrive)。操作者亦可針對(duì)每一次的測(cè)試結(jié)果進(jìn)行數(shù)據(jù)分析。儲(chǔ)存文件格式為CSV（Comma Separated Values）。
